表面污染检测仪-JB4040型 β、γ检测仪|价格|JB4040型 β、γ表面污染检测仪-上海乐捷电子科技有限公司服务热线：021-58376975。

JB4040型 β、γ检测仪，适用于低水平β、γ辐射表面污染检测，同时也适用与X、γ辐射剂量率的监测。仪器采用进口盖革探测器，具有较高的探测效率；是环境实验室、核医学、分子生物学、放射化学、核原料运输、储存和商检等领域进行β辐射表面污染检测或X，γ辐射防护监测的理想仪器，该仪器采用单片机控制，LCD液晶显示，读数清晰、操作方便。

功能特点技术参数

功能特点

GM探测器阵列，探测效率高

便携式设计，重量轻
单片机控制，软件功能强
LCD液晶显示，会话式操作界面
计数率显示CPM、CPS、μSv/h
电池失效报警

技术参数

计数范围：1～106

显示单位：CPM、CPS、μGy/h
探测器面积：25cm2
灵敏度：≥500 CPM/μSv/h
剂量率范围：0.01～200.00μSv/h
仪器本底：每分钟计数≤130 CPM
相对误差：测量范围内相对基本误差≤20%
供电电源：2节1.5v普通5号电池，整机电流≤50mA
温度范围：-10℃～45℃
湿度范围：相对湿度≤90%（40℃）

尺寸重量：0.64kg;23×13×4.5（cm）

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